أعضاء هيئة التدريس - جامعة بنها
“Novel technique for carrier lifetime measurement by ّ-MOSFET transients” Proceedings 1996 IEEE international SOI conference, Sanibel Island, FL, USA, Oct. , PP 160-161.
• 1996
معلومات البحث
المؤلفون
S. Cristoloveanu, T. Elewa, D. Munteanu and A. Ionescu
الكلمات المفتاحية
Not Available
المجلة العلمية
Not Available
الناشر
Not Available
المجلد
Not Available
العدد
Not Available
الصفحات
Not Available
publication.type
International
رابط البحث
Not Available
المواد المرفقة
Not Available
الملخص
Not Available