أعضاء هيئة التدريس - جامعة بنها
“Novel investigation of edge effects in SIMOX transistors” IEEE SOS/SOI Technology Conference, Stateline, Nevada, USA, pp. 35—36.
• 1989
معلومات البحث
المؤلفون
T. ELEWA, B. KLEVELAND, B. BOUKRISS, T. OUISSE, A. CHOVET and S. CRISTOLOVEANU
الكلمات المفتاحية
Not Available
المجلة العلمية
Not Available
الناشر
Not Available
المجلد
Not Available
العدد
Not Available
الصفحات
Not Available
publication.type
International
رابط البحث
Not Available
المواد المرفقة
Not Available
الملخص
Not Available